一、参考书目:

王培铭、许乾慰主编“材料研究方法”（第三版），科学出版社

二、基本要求

1. 掌握各种材料表征设备的理论基础、样品处理方法、数据处理方法。

2. 掌握晶体学基础知识，理解X 光、电子束与晶体相互作用机制。

3. 掌握材料结构、形貌、成分分析的基本方法，掌握各种测试方法的应用范围及优势。

4. 能综合运用各种分析方法研究材料的结构及物理、化学性质，解决材料研究中的常见案例。

三、主要知识点

第一章 晶体学基础知识：晶体几何学基础；空间点阵；倒易点阵及其在几何学中的应用。

第二章 X 射线衍射：X射线的产生及特性；X射线与物质相互作用机制；布拉格方程及衍射方法；X射线衍射仪的基本结构及工作原理；粉末衍射定性分析；应力分析；谢乐公式；X射线衍射的应用；X射线衍射谱的标定及数据分析；物相分析的一般方法。

第三章 电子显微学：光学显微镜与透射电镜的异同；电子与物质的相互作用；扫描电镜和透射电镜基本工作原理、仪器构造、样品制备方法及应用范围; 透射电镜成像方法、明场像、暗场像；电子衍射原理、基本衍射公式、电子衍射花样及标定方法。

第四章 原子力显微镜：原子力显微镜工作原理、仪器构造及应用范围；原子力显微镜工作模式。

第五章 热分析方法：差热分析、热重分析仪的工作原理及在材料研究中的应用；热重曲线、差热曲线的数据分析。

第六章 材料成分分析方法：X射线光电子能量谱（XPS）、俄歇电子能谱、X射线能量色散谱的工作原理及应用范围；XPS 分峰方法。

第七章 光谱分析：物质与光的相互作用；紫外可见吸收光谱、拉曼光谱、红外光谱的工作原理及其在材料研究中的作用。比尔定律、拉曼散射、拉曼/红外活性等相关重要概念。